Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN 60749-37:2008 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (Endorsed by AENOR in July of 2008.)
Sponsored link
sklademVydáno: 2008-07-01
UNE EN 60749-37:2008 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (Endorsed by AENOR in July of 2008.)

UNE EN 60749-37:2008

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (Endorsed by AENOR in July of 2008.)

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 37: Método de ensayo de caida a nivel de tarjeta para componentes usando un acelerómetro. (Ratificada por AENOR en julio de 2008.)

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
1946 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1946 Kč
Označení normy:UNE EN 60749-37:2008
Počet stran:23
Vydáno:2008-07-01
Status:Norma
Popis

This standard UNE EN 60749-37:2008 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (Endorsed by AENOR in July of 2008.) is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
:
Tisk