Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN 62373:2006 Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) (IEC 62373:2006). (Endorsed by AENOR in November of 2006.)
sklademVydáno: 2006-11-01
UNE EN 62373:2006 Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) (IEC 62373:2006). (Endorsed by AENOR in November of 2006.)

UNE EN 62373:2006

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) (IEC 62373:2006). (Endorsed by AENOR in November of 2006.)

Ensayo de estabilidad a temperatura Bias para óxido metálico, semiconductores, transistores de efecto de campo (IEC 62373:2006) (Ratificada por AENOR en noviembre de 2006).

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
1817 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1817 Kč
Označení normy:UNE EN 62373:2006
Počet stran:17
Vydáno:2006-11-01
Status:Norma
Popis

This standard UNE EN 62373:2006 Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) (IEC 62373:2006). (Endorsed by AENOR in November of 2006.) is classified in these ICS categories:

  • 31.080.30
:
Tisk