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UNE EN 62374-1:2010
Semiconductor devices -- Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (Endorsed by AENOR in March of 2011.)
Dispositivos semiconductores. Ensayo de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas (Ratificada por AENOR en marzo de 2011.)
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| Označení normy: | UNE EN 62374-1:2010 |
| Počet stran: | 19 |
| Vydáno: | 2011-03-01 |
| Status: | Norma |
Popis
This standard UNE EN 62374-1:2010 Semiconductor devices -- Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (Endorsed by AENOR in March of 2011.) is classified in these ICS categories:
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