Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN 62415:2010 Semiconductor devices - Constant current electromigration test (Endorsed by AENOR in September of 2010.)
Sponsored link
sklademVydáno: 2010-09-01
UNE EN 62415:2010 Semiconductor devices - Constant current electromigration test (Endorsed by AENOR in September of 2010.)

UNE EN 62415:2010

Semiconductor devices - Constant current electromigration test (Endorsed by AENOR in September of 2010.)

Dispositivos de semiconductores. Ensayo de electromigración de intensidad constante. (Ratificada por AENOR en septiembre de 2010.)

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
1722 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1722 Kč
Označení normy:UNE EN 62415:2010
Počet stran:14
Vydáno:2010-09-01
Status:Norma
Popis

This standard UNE EN 62415:2010 Semiconductor devices - Constant current electromigration test (Endorsed by AENOR in September of 2010.) is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
:
Tisk