Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN 62417:2010 Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) (Endorsed by AENOR in September of 2010.)
Sponsored link
sklademVydáno: 2010-09-01
UNE EN 62417:2010 Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) (Endorsed by AENOR in September of 2010.)

UNE EN 62417:2010

Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) (Endorsed by AENOR in September of 2010.)

Dispositivos semiconductores. Ensayos de iones móviles para transistores de semiconductores de óxido metálico de efecto de campo (MOSFET) (Ratificada por AENOR en septiembre de 2010.)

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
1140 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1140 Kč
Označení normy:UNE EN 62417:2010
Počet stran:11
Vydáno:2010-09-01
Status:Norma
Popis

This standard UNE EN 62417:2010 Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) (Endorsed by AENOR in September of 2010.) is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
:
Tisk