Cena s DPH / bez DPH
Sponsored link
sklademVydáno: 2010-10-01
UNE EN 62418:2010
Semiconductor devices - Metallization stress void test (Endorsed by AENOR in October of 2010.)
Dispositivos semiconductores. Ensayo de esfuerzos para metalización en vacio (Ratificada por AENOR en octubre de 2010.)
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
1891 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1891 Kč
| Označení normy: | UNE EN 62418:2010 |
| Počet stran: | 20 |
| Vydáno: | 2010-10-01 |
| Status: | Norma |
Popis
This standard UNE EN 62418:2010 Semiconductor devices - Metallization stress void test (Endorsed by AENOR in October of 2010.) is classified in these ICS categories:
- 31.080.01
: