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UNE EN IEC 60749-13:2018
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (Endorsed by Asociación Española de Normalización in May of 2018.)
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2018.)
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| Označení normy: | UNE EN IEC 60749-13:2018 |
| Počet stran: | 23 |
| Vydáno: | 2018-05-01 |
| Status: | Norma |
Popis
This standard UNE EN IEC 60749-13:2018 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (Endorsed by Asociación Española de Normalización in May of 2018.) is classified in these ICS categories:
- 31.080.01
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