Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN IEC 60749-17:2019 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (Endorsed by Asociación Española de Normalización in June of 2019.)
Sponsored link
sklademVydáno: 2019-06-01
UNE EN IEC 60749-17:2019 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (Endorsed by Asociación Española de Normalización in June of 2019.)

UNE EN IEC 60749-17:2019

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (Endorsed by Asociación Española de Normalización in June of 2019.)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 17: Irradiación de neutrones. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2019.)

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
1723 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1723 Kč
Označení normy:UNE EN IEC 60749-17:2019
Počet stran:17
Vydáno:2019-06-01
Status:Norma
Popis

This standard UNE EN IEC 60749-17:2019 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (Endorsed by Asociación Española de Normalización in June of 2019.) is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
: