Vážení zákazníci, v letošním roce budeme expedovat poslední objednávky ve středu 18. 12. 2024.

Těšíme se s vámi na shledanou od pondělí 06. 01. 2025.

 

Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN IEC 60749-18:2019 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2019.)
Sponsored link
sklademVydáno: 2019-07-01
UNE EN IEC 60749-18:2019 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2019.)

UNE EN IEC 60749-18:2019

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2019.)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 18: Radiación ionizante (dosis total) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2019.)

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
2085 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
2085 Kč
Označení normy:UNE EN IEC 60749-18:2019
Počet stran:29
Vydáno:2019-07-01
Status:Norma
Popis

This standard UNE EN IEC 60749-18:2019 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2019.) is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
: