Vážení zákazníci, v letošním roce budeme expedovat poslední objednávky ve středu 18. 12. 2024.

Těšíme se s vámi na shledanou od pondělí 06. 01. 2025.

 

Přihlásit seRegistrovat se
Jazyk czen
Menu
KontaktOBCHODNÁPOVĚDAInfobarE-ReadingNovinky
Hledání
0
Celková cena
0 Kč
Cena s DPH / bez DPH
Hlavní stránka>UNE EN IEC 60749-30:2020 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (Endorsed by Asociación Española de Normalización in November of 2020.)
Sponsored link
sklademVydáno: 2020-11-01
UNE EN IEC 60749-30:2020 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (Endorsed by Asociación Española de Normalización in November of 2020.)

UNE EN IEC 60749-30:2020

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (Endorsed by Asociación Española de Normalización in November of 2020.)

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 30: Preacondicionamiento de dispositivos de montaje superficial no herméticos antes de su ensayo de fiabilidad. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2020.)

Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
1934 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1934 Kč
Označení normy:UNE EN IEC 60749-30:2020
Počet stran:21
Vydáno:2020-11-01
Status:Norma
Popis

This standard UNE EN IEC 60749-30:2020 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (Endorsed by Asociación Española de Normalización in November of 2020.) is classified in these ICS categories:

  • 31.080.01
:
Tisk