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sklademVydáno: 2020-10-01
UNE EN IEC 60749-41:2020
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices (Endorsed by Asociación Española de Normalización in October of 2020.)
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 41: Métodos de ensayo estándar de fiabilidad de dispositivos de memoria no volátiles (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)
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| Označení normy: | UNE EN IEC 60749-41:2020 |
| Počet stran: | 29 |
| Vydáno: | 2020-10-01 |
| Status: | Norma |
Popis
This standard UNE EN IEC 60749-41:2020 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices (Endorsed by Asociación Española de Normalización in October of 2020.) is classified in these ICS categories:
- 31.080.01
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