Cena s DPH / bez DPH
Sponsored link
sklademVydáno: 2024-03-01
UNE EN IEC 60749-5:2024
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (Endorsed by Asociación Española de Normalización in March of 2024.)
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo continuo de duración de vida bajo temperatura y humedad con polarización. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2024.)
Formát
Dostupnost
Cena a měna
Anglicky PDF
K okamžitému stažení
1752 Kč
Anglicky Tisk
Skladem
1752 Kč
| Označení normy: | UNE EN IEC 60749-5:2024 |
| Počet stran: | 18 |
| Vydáno: | 2024-03-01 |
| Status: | Norma |
Popis
This standard UNE EN IEC 60749-5:2024 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (Endorsed by Asociación Española de Normalización in March of 2024.) is classified in these ICS categories:
- 31.080.01
: